Vui lòng sử dụng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu:
http://dspace.hmtu.edu.vn/handle/DHKTYTHD_123/15738Thông tin siêu dữ liệu biểu ghi
| Trường DC | Giá trị | Ngôn ngữ |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Lee, Myeongkyu | - |
| dc.date.accessioned | 2023-02-06T01:41:26Z | - |
| dc.date.available | 2023-02-06T01:41:26Z | - |
| dc.date.issued | 2016 | - |
| dc.identifier.uri | http://dspace.hmtu.edu.vn/handle/DHKTYTHD_123/15738 | - |
| dc.description | Chính văn tài liệu | vi |
| dc.language.iso | en | vi |
| dc.publisher | Apple Academic Press | vi |
| dc.subject | X-ray diffraction | vi |
| dc.subject | fundamentals | vi |
| dc.title | X-ray diffraction for materials research : from fundamentals to applications | vi |
| dc.type | Book | vi |
| Bộ sưu tập | Khoa Chẩn đoán hình ảnh | |
Danh sách tệp tin đính kèm:
| Tên tệp tin | Mô tả tệp tin | Dung lượng | Định dạng | |
|---|---|---|---|---|
| X-ray diffraction for materials research _ from fundamentals to applications.pdf Restricted Access | 21.13 MB | Adobe PDF | Gửi yêu cầu |
Khi sử dụng tài liệu trong thư viện số bạn đọc phải tuân thủ đầy đủ luật bản quyền.