Please use this identifier to cite or link to this item:
http://dspace.hmtu.edu.vn/handle/DHKTYTHD_123/14779
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Nguyễn , Hữu Trung | - |
dc.date.accessioned | 2022-11-21T06:49:36Z | - |
dc.date.available | 2022-11-21T06:49:36Z | - |
dc.date.issued | 2022 | - |
dc.identifier.uri | http://dspace.hmtu.edu.vn/handle/DHKTYTHD_123/14779 | - |
dc.description | Chính văn tài liệu | vi |
dc.language.iso | vi | vi |
dc.publisher | Tạp chí Y học Việt Nam | vi |
dc.subject | Lấy dấu thường quy | vi |
dc.subject | lấy dấu kỹ thuật số | vi |
dc.title | Đánh giá sự khít sát của inlay toàn sứ lithium disilicate được thực hiện bằng kỹ thuật lấy dấu thường quy và lấy dấu kỹ thuật số/Nguyễn Hữu Trung | vi |
dc.type | Article | vi |
Appears in Collections | Tạp chí Y học Việt Nam năm 2022 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
2181-Văn bản của bài báo-4003-1-10-20220422.pdf Restricted Access | 329.25 kB | Adobe PDF | Request Item |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.