Please use this identifier to cite or link to this item: http://dspace.hmtu.edu.vn/handle/DHKTYTHD_123/14779
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorNguyễn , Hữu Trung-
dc.date.accessioned2022-11-21T06:49:36Z-
dc.date.available2022-11-21T06:49:36Z-
dc.date.issued2022-
dc.identifier.urihttp://dspace.hmtu.edu.vn/handle/DHKTYTHD_123/14779-
dc.descriptionChính văn tài liệuvi
dc.language.isovivi
dc.publisherTạp chí Y học Việt Namvi
dc.subjectLấy dấu thường quyvi
dc.subjectlấy dấu kỹ thuật sốvi
dc.titleĐánh giá sự khít sát của inlay toàn sứ lithium disilicate được thực hiện bằng kỹ thuật lấy dấu thường quy và lấy dấu kỹ thuật số/Nguyễn Hữu Trungvi
dc.typeArticlevi
Appears in CollectionsTạp chí Y học Việt Nam năm 2022

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2181-Văn bản của bài báo-4003-1-10-20220422.pdf
  Restricted Access
329.25 kBAdobe PDF Request Item


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.