Please use this identifier to cite or link to this item:
http://dspace.hmtu.edu.vn/handle/DHKTYTHD_123/14779| Title: | Đánh giá sự khít sát của inlay toàn sứ lithium disilicate được thực hiện bằng kỹ thuật lấy dấu thường quy và lấy dấu kỹ thuật số/Nguyễn Hữu Trung |
| Authors: | Nguyễn , Hữu Trung |
| Keywords: | Lấy dấu thường quy lấy dấu kỹ thuật số |
| Issue Date: | 2022 |
| Publisher: | Tạp chí Y học Việt Nam |
| Description: | Chính văn tài liệu |
| URI: | http://dspace.hmtu.edu.vn/handle/DHKTYTHD_123/14779 |
| Appears in Collections | Tạp chí Y học Việt Nam năm 2022 |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 2181-Văn bản của bài báo-4003-1-10-20220422.pdf Restricted Access | 329.25 kB | Adobe PDF | Request Item |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.