Vui lòng sử dụng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu:
http://dspace.hmtu.edu.vn/handle/DHKTYTHD_123/14779| Nhan đề : | Đánh giá sự khít sát của inlay toàn sứ lithium disilicate được thực hiện bằng kỹ thuật lấy dấu thường quy và lấy dấu kỹ thuật số/Nguyễn Hữu Trung |
| Tác giả : | Nguyễn , Hữu Trung |
| Chủ đề : | Lấy dấu thường quy lấy dấu kỹ thuật số |
| Năm xuất bản : | 2022 |
| Nhà xuất bản : | Tạp chí Y học Việt Nam |
| Mô tả: | Chính văn tài liệu |
| URI: | http://dspace.hmtu.edu.vn/handle/DHKTYTHD_123/14779 |
| Bộ sưu tập | Tạp chí Y học Việt Nam năm 2022 |
Danh sách tệp tin đính kèm:
| Tên tệp tin | Mô tả tệp tin | Dung lượng | Định dạng | |
|---|---|---|---|---|
| 2181-Văn bản của bài báo-4003-1-10-20220422.pdf Restricted Access | 329.25 kB | Adobe PDF | Gửi yêu cầu |
Khi sử dụng tài liệu trong thư viện số bạn đọc phải tuân thủ đầy đủ luật bản quyền.