Vui lòng sử dụng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu:
http://dspace.hmtu.edu.vn/handle/DHKTYTHD_123/15740
Nhan đề : | Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Fourth Edition |
Tác giả : | Goldstein, Joseph I. |
Chủ đề : | X-Ray Microanalysis Electron Microscopy |
Năm xuất bản : | 2018 |
Nhà xuất bản : | Springer Science+Business Media |
Mô tả: | Chính văn tài liệu |
URI: | http://dspace.hmtu.edu.vn/handle/DHKTYTHD_123/15740 |
Bộ sưu tập | Khoa Chẩn đoán hình ảnh |
Danh sách tệp tin đính kèm:
Tên tệp tin | Mô tả tệp tin | Dung lượng | Định dạng | |
---|---|---|---|---|
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis.pdf Restricted Access | 66.74 MB | Adobe PDF | Gửi yêu cầu |
Khi sử dụng tài liệu trong thư viện số bạn đọc phải tuân thủ đầy đủ luật bản quyền.