Please use this identifier to cite or link to this item:
http://dspace.hmtu.edu.vn/handle/DHKTYTHD_123/15740| Nhan đề : | Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Fourth Edition |
| Tác giả : | Goldstein, Joseph I. |
| Chủ đề : | X-Ray Microanalysis Electron Microscopy |
| Năm xuất bản : | 2018 |
| Nhà xuất bản : | Springer Science+Business Media |
| Mô tả: | Chính văn tài liệu |
| URI: | http://dspace.hmtu.edu.vn/handle/DHKTYTHD_123/15740 |
| Bộ sưu tập | Khoa Chẩn đoán hình ảnh |
Danh sách tệp tin đính kèm:
| Tên tệp tin | Mô tả tệp tin | Dung lượng | Định dạng | |
|---|---|---|---|---|
| Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis.pdf Restricted Access | 66.74 MB | Adobe PDF | Request Item |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.